离子迁移装置

离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（ BIAS VOLTAGE ）, 经过长时间的测试（1 ～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ ION MIGRATION ）, 并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。（ ION MIGRATION TESTING ）

序号             产品优势关键指标              详细说明

1 测试速度 测试所有通道数 ECM-100/100-100 只需 16msec

2 控制形式 对每个通道可施加设定不同电压，每个通道可单独启动及停止测试的强大控制功 能。

3 设备尺寸 筐体尺寸：W417.4*D330.3*405H，不占位置 

4 设备结构及重量 手提式设计，重量约 25kg，根据需要单人即可轻易移动。 

5 通讯功能 1 台主机标配 2 个 RS-232C 通信功能接口，可以对 2 台环境试验箱进行多任务测试。 

6 测试功能 多任务测试功能：在不停止原有测试的情况下，可以在任意时间开始另外的测试任 务。（例：假设客户有 100CH 的 ECM 设备,测试员于 25 天前开始用其中的 50CH 进 行一组 1000 小时（41.67 天）的测试，客户现在又接到新的测试任务，ECM 可以 在不需要停止原先测试任务的情况下，在任意时间开始用剩余通道进行新的测试任 务） *注 

7 耗材成本低 的延长线设计工艺,不再担心测试后剪断的连接线成本,只需市场上购买可靠的 耐高温测试线即可,不需要向原厂购买,

8 通道拓展功能 本次一台主机共有 100 通道的机壳，在配满的 50CH 外，后续可添购每 10CH/模块， 轻松任意拓展余下 50CH。我们的系统较多能四台主机联机控制，能拓展到 400CH。 

9 模块独立测试功能 每个通道配置一个电源、一个微型电流计、一个扫描仪，拔插式的高度模块化设计， 使得现有的 130CH 可任意组合分开独立主机使用，例：60CH/台+70CH/台、50CH/ 台+80CH/台 …… 

10 模块独立测试功能 *二代高度集成 CAF 系统，每个通道配置一个电源、一个微型电流计，拔插式的 高度模块化设计

11 软件优势 操作简单，扫描速度快，可时时查看数据，并且可以设置单电压和双电压（测量电 压和印加电压不一样）模式 

12 样品保护 采用限电流保护,当电流**过 700uA 时，设备会自动降低电压，以保证电流不 **过 700uA/CH，能更好的保护样品不被烧掉 13 CF 储存，数据保护功能 独立于 PC 的 CF 卡的储存功能，能保持试验数据的安全性和连续性。 ECM-100 测试机台本身可独立完成测试，实时将数据存储在的 CF 卡上，之后 再覆盖到电脑里，保证了数据的安全性 

14 售后服务 设备是高度模块化的集成设计，当个别通道出现问题时，只要卸下该模块，将不影 响其它模块通道的使用，将有疑问的模块拿给原厂确认维修，这非常符合测试部门 的需求，售后不花精力对应。